[发明专利]可消除零件定位误差的复杂回转体轮廓测量方法及装置

摘要

本发明属于测量仪器制造及测量技术领域，特别是一种可消除零件定位误差的复杂回转体轮廓测量方法及装置。本发明的装置包括由可发射平行光幕的发射器和高精度线阵CCD构成的接收器组成的第一测量头和第二测量头、回转工作台、基座、立式导轨和浮动架组成的立式导轨系统。被测回转体零件置于回转工作台上，第一测量头和第二测量头可随浮动架沿立式导轨上下运动，且第一测量头和第二测量头在被测回转体工件的两侧径向对称分布，测量头的测量范围大于被测回转体的半径变化量。使用该方法和装置测量复杂回转体时，能够有效地自动消除零件定位误差的影响，快速测量复杂回转体的轮廓尺寸和轮廓度误差。

主权项

1.一种可消除零件定位误差的复杂回转体轮廓测量方法，其特征在于该方法包括以下步骤：①.将被测回转体零件放置在回转工作台上，测量头发射器发射的可见平行光，照射在被测回转体的表面，测量头接收器中的高精度线阵CCD安装在回转体相对位置，回转体遮挡住部分平行光，使得回转体边缘在CCD上成像，光学成像系统输出一个回转体的径向数据。②.浮动架沿立式导轨运动，两个测量头分别输出两组径向数据，光栅尺同时输出高度数据，得到被测回转体工件的两条轮廓曲线。③.对以上测得的数据进行处理，求出这两条轮廓曲线的中心线，并对数据进行变换，就得到了回转体的实际轮廓中心线。④.将回转体回转一定角度，测量另一个测量截面，依次得到n组数据。⑤.将这些数据进行重组，即可以得到被测回转体的三维回转轮廓。将之和已知的设计规范进行对比，得到该回转体的三维轮廓误差。