[发明专利]智能杂质金属检测系统及其检测方法

摘要

本发明涉及智能杂质金属检测系统，包括有剔除装置，还包括有与剔除装置电连接的计算机，计算机上还电连接有数字采集卡，数字采集卡包括A/D转换卡及D/A转换卡，其中D/A转换卡通过功率放大电路连接有发射天线，A/D转换卡通过低噪放大电路电连接有接收天线；计算机产生的数字信号经过D/A转换卡转换成模拟信号，并通过功率放大电路传送至发射电线，由发射天线向外辐射，在物料通过区域产生一个似稳电磁场，金属杂质通过时，会产生二次干扰磁场，从而产生干扰信号，接收天线获取金属杂质的干扰信号后，经过低噪放大电路的放大、滤波、整流后传送至A/D转换卡，由A/D转换卡将干扰信号转化为数字信号并传送至计算机，最后由计算机控制剔除装置完成金属杂质剔除工作。

主权项

1、智能杂质金属检测系统，包括有剔除装置，其特征在于：还包括有与剔除装置电连接的计算机，所述计算机上还电连接有数字采集卡，所述数字采集卡包括A/D转换卡及D/A转换卡，其中D/A转换卡通过功率放大电路连接有发射天线，A/D转换卡通过低噪放大电路电连接有接收天线；所述计算机产生的数字信号经过D/A转换卡转换成模拟信号，并通过功率放大电路传送至发射天线，在其周围产生一个交变的电磁场，接收天线感应磁场，并转换为电信号；通过天线的设计，接收天线上形成的合成场量为零，感应的电动势也就为零，当有金属进入时，就改变了发射天线和接收天线之间的场的结构，从而使接收天线收到的信号在幅度和相位上都有变化，将该信号经过低噪放大电路的放大、滤波、整流后传送至A/D转换卡，由A/D转换卡将干扰信号转化为数字信号并传送至计算机处理，最后由计算机控制剔除装置完成金属杂质剔除工作；接收天线与发射天线为分体式上下结构，传输带从二者之间通过，无金属时，不会产生扰动，有金属时，产生扰动，接收天线获取金属信号并通过A/D转换卡送至计算机处理。