[发明专利]测量设备校准状况的客观自诊断的系统和方法有效
| 申请号： | 200910140636.5 | 申请日： | 2009-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN101608927A | 公开（公告）日： | 2009-12-23 |
| 发明（设计）人： | P·德拉茹德;M·吉拉德 | 申请（专利权）人： | 弗卢克公司 |
| 主分类号： | G01D1/02 | 分类号： | G01D1/02;G01D1/18;G01L15/00;G01R19/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 陈 珊;刘兴鹏 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种测量系统使用多个在至少一个方面彼此不同的换能器，比如具有不同的操作原理或由不同的厂商制造。从换能器获得的相应测量值应用至处理器，该处理器基于来自多个换能器的测量值提供一个测量值。该处理器还基于从换能器获得的测量值与从多个换能器获得的相应测量值的组合所获得的值相比较来提供关于每个换能器的校准漂移的信息。校准漂移的信息提供关于每个换能器的校准状况的客观评测。当换能器被确定为超出其校准误差时，就出现校准需求警报。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 设备 校准 状况 客观 诊断 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量参数的方法，包括：进行多个测量，至少其中一些测量与其它测量独立地进行；从所述多个测量中的至少一些中得到测量值；以及使用所述多个测量以确定所述多个测量中的至少一些的准确度是否低于预定的准确度。
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