[发明专利]X射线荧光分析装置有效
| 申请号： | 200910119502.5 | 申请日： | 2009-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN101504380A | 公开（公告）日： | 2009-08-12 |
| 发明（设计）人： | 郑维明;黄清良;宋游;吴继宗;刘桂娇 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及X射线荧光分析技术，它公开了一种X射线荧光分析装置。该装置包括X光激发系统、放置样品的样品盒、石墨晶体衍射光路、探测器多道系统、计算机数据采集与处理系统等组成，其中样品盒安装在手套箱内部，其余系统均在手套箱外部，并采用轻质材料进行窗口密封。该方案不仅满足了防护的要求，而且装置维修简单，电子学设备所受影响也较小。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 荧光 分析 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种X射线荧光分析装置，包括X光激发系统(1)、放置样品(6)的样品盒(5)、石墨晶体衍射光路(8)、探测器多道系统(9)、计算机数据采集与处理系统(10)等组成，其特征在于：将样品盒(5)安装在手套箱(4)内部，其余系统均在手套箱(4)外部，并采用轻质材料进行窗口密封。
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