[发明专利]用于实现链式测试的方法和装置及连接电路无效
| 申请号： | 200910108098.1 | 申请日： | 2009-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN101592708A | 公开（公告）日： | 2009-12-02 |
| 发明（设计）人： | 何秀红 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁明升 |
| 地址： | 518057广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开用于实现链式测试的方法和装置及连接电路，其中，该方法包括：将测试数据输入信号提供给所述JTAG链的第一片JTAG器件；根据所述JTAG链中接入的JTAG器件数量，将测试时钟信号驱动为相应的多路测试时钟信号，并分别提供给接入的JTAG器件；根据所述JTAG链中接入的JTAG器件数量，将测试模式选择信号驱动为相应的多路测试模式选择信号，并分别提供给接入的JTAG器件；将所述JTAG链中最后一片JTAG器件的测试数据输出信号作为测试输出信号输出。既实现了把单板上多片JTAG器件连接在一个单一的JTAG测试链中，也能将其中某一个JTAG器件选择出来进行测试或调试工作。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 实现 链式 测试 方法 装置 连接 电路 | ||
【主权项】：
1、一种用于实现链式测试的方法，其特征在于，每一个支持联合测试行动小组标准JTAG器件的测试数据输入信号线的前端和测试数据输出信号线的后端分别与一个串接电阻耦合；所述JTAG器件的测试数据输入信号串接电阻的前端、所述JTAG器件的测试数据输出信号串接电阻的后端，分别与一个旁接电阻耦合；当需要将JTAG器件接入JTAG链时，则将该JTAG器件的测试数据输入信号线的前端串接电阻和测试数据输出信号线的后端串接电阻接入，该JTAG器件的旁接电阻断开；当无需将JTAG器件接入JTAG链时，则将该JTAG器件的两个旁接电阻接入，该JTAG器件的测试数据输入信号线的前端串接电阻和测试数据输出信号线的后端串接电阻断开；该方法包括：将测试数据输入信号提供给所述JTAG链的第一片JTAG器件；根据所述JTAG链中接入的JTAG器件数量，将测试时钟信号驱动为相应的多路测试时钟信号，并分别提供给接入的JTAG器件；根据所述JTAG链中接入的JTAG器件数量，将测试模式选择信号驱动为相应的多路测试模式选择信号，并分别提供给接入的JTAG器件；将所述JTAG链中最后一片JTAG器件的测试数据输出信号作为测试输出信号输出。
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