[发明专利]一种土壤中金属元素的测量方法及装置在审
申请号: | 200910102002.0 | 申请日: | 2009-08-20 |
公开(公告)号: | CN101672809A | 公开(公告)日: | 2010-03-17 |
发明(设计)人: | 王宏;夏阿林;郭生良 | 申请(专利权)人: | 聚光科技(杭州)有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310052浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种土壤中金属元素的测量方法,包括以下步骤:a、操作人员携带便携式土壤金属分析仪和土壤湿度传感器至待测土壤,将所述分析仪放置在土壤待测点上;b、光源发出的X射线照射在待测土壤上,探测器接收待测土壤发出的X射线荧光,经处理后得到待测土壤中待测金属元素的浓度C’;c、操作人员取回测量装置;上述测量步骤还包括湿度校正过程,即:处理单元根据浓度C’、湿度H、C=F(C′,H)得到待测金属元素的校正浓度C;所述湿度校正过程在步骤b或c中进行。本发明还公开了一种土壤中金属元素的测量装置。本发明具有操作简便快捷、操作方式灵活多样、测量准确性高及应用范围广等优点,可广泛应用在土壤中金属元素的测量中。 | ||
搜索关键词: | 一种 土壤 金属元素 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
1、一种土壤中金属元素的测量方法,包括以下步骤:a、操作人员携带便携式土壤金属分析仪和土壤湿度传感器至待测土壤,将所述金属分析仪放置在土壤待测点上;b、所述金属分析仪内光源发出的X射线照射在待测土壤上,探测器接收待测土壤发出的X射线荧光,并将信号传送给处理单元,经过处理后得到待测土壤中待测金属元素的浓度C’;将土壤湿度传感器插入待测土壤,测得湿度H;c、操作人员取回测量装置;上述测量步骤中还包括湿度校正过程,即:处理单元根据浓度C’、湿度H、C=F(C′,H)得到待测金属元素的校正浓度C;所述湿度校正过程在步骤b或步骤c中进行。
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