[发明专利]一种动态随机测试方法

摘要

一种动态随机测试方法，它包括下列步骤：(1)将测试用例或测试对象输入域划分为若干个等价类{C₁，C₂，…，C_m}；(2)确定一个初始的测试剖面{p₁，p₂，…，p_m}，根据该剖面随机选择一个测试用例集合C_i，从C_i中随机选择一个测试用例并进行测试；(3)根据测试的结果，对测试剖面进行调整：若发现缺陷，则令p_i＝p_i+ε，同时剔除发现的缺陷；若未发现缺陷，则令p_i＝p_i－ε，ε是测试前给定的参数，同时对测试剖面其他元素进行相应修正使得p_i≥0，i＝1，2，…，m且；(4)根据调整后的测试剖面选择一个测试用例集合，从中随机选择测试用例进行测试；(5)再次根据测试的结果，对测试剖面进行调整，调整的规则同步骤(3)；(6)依此类推，直到发现和剔除全部缺陷或满足其他测试终止条件。本发明原理简单、应用方便。

主权项

1、一种动态随机测试方法，其特征在于：该方法具体步骤如下：步骤一：将测试用例根据分类原则，按功能模块、覆盖率和创建时间，划分为m个等价类即{C1，C2，...，Cm}，其中，{C1，C2，...，Cm}分别表示m个测试用例等价类，m表示测试用例等价类个数；步骤二：确定一个初始的测试剖面{p1，p2，...，pm}，根据该剖面随机地选择一个测试用例集合Ci，从Ci中随机选择一个测试用例，作为被测对象的输入，执行测试并检查被测对象的输出结果是否符合设计要求；其中，{p1，p2，...，pm}表示初始测试剖面，Ci表示被选中的测试用例集合；步骤三：根据测试的结果，即有无发现缺陷，对测试剖面进行调整：A.若发现缺陷，则令$p_j=\left\{\begin{array}{ccc}{p}_j-\frac{\mathrm{\ϵ}}{m-1}& \mathrm{if}& p_j\≥\frac{\mathrm{\ϵ}}{m-1}\\ 0& \mathrm{if}& p_j\<\frac{\mathrm{\ϵ}}{m-1}\end{array}\right.\mathrm{forj}\≠i---\left(1\right)$$p_i=1-\underset{j\≠i}{\mathrm{\Σ}}{p}_j$同时剔除发现的缺陷；其中，ε是测试剖面动态调整的参数；m是测试用例等价类个数；pj是除第i类外，其余各等价类的被选择概率，pi是上一步中被选择的等价类Ci在当前测试剖面中的被选择概率；B.若没有发现缺陷，则令$p_i=\left\{\begin{array}{ccc}{p}_i-\mathrm{\ϵ}& \mathrm{if}& p_i\≥\mathrm{\ϵ}\\ 0& \mathrm{if}& p_i\<\mathrm{\ϵ}\end{array}\right.$$p_j=\left\{\begin{array}{ccc}{p}_j+\frac{\mathrm{\ϵ}}{m-1}& \mathrm{if}& p_i\≥\mathrm{\ϵ}\\ p_j+\frac{P_i}{m-1}& \mathrm{if}& p_i\<\mathrm{\ϵ}\end{array}\right.\mathrm{forj}\≠i---\left(2\right)$其中，ε是测试剖面动态调整的参数；m是测试用例等价类个数；pj是除第i类外，其余各等价类的被选择概率，pi是上一步中被选择的等价类Ci在当前测试剖面中的被选择概率；步骤四：根据调整后的测试剖面选择一个测试用例集合，从中随机选择测试用例，并进行测试；步骤五：再次根据测试的结果，即有无发现缺陷，对测试剖面进行调整，调整的规则同步骤三；步骤六：依此类推，直到发现和剔除全部缺陷及满足其他测试终止条件。