[发明专利]一种动态随机测试方法无效

专利信息
申请号: 200910089623.X 申请日: 2009-07-23
公开(公告)号: CN101620566A 公开(公告)日: 2010-01-06
发明(设计)人: 蔡开元;胡海;江昌海;叶锋;郑征 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191北京市海淀区学*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 动态 随机 测试 方法
【权利要求书】:

1、一种动态随机测试方法,其特征在于:该方法具体步骤如下:

步骤一:将测试用例根据分类原则,按功能模块、覆盖率和创建时间,划分为m个等价类即{C1,C2,...,Cm},其中,{C1,C2,...,Cm}分别表示m个测试用例等价类,m表示测试用例等价类个数;

步骤二:确定一个初始的测试剖面{p1,p2,...,pm},根据该剖面随机地选择一个测试用例集合Ci,从Ci中随机选择一个测试用例,作为被测对象的输入,执行测试并检查被测对象的输出结果是否符合设计要求;其中,{p1,p2,...,pm}表示初始测试剖面,Ci表示被选中的测试用例集合;

步骤三:根据测试的结果,即有无发现缺陷,对测试剖面进行调整:

A.若发现缺陷,则令

pj=pj-ϵm-1ifpjϵm-10ifpj<ϵm-1forji---(1)]]>

pi=1-Σjipj]]>

同时剔除发现的缺陷;

其中,ε是测试剖面动态调整的参数;m是测试用例等价类个数;pj是除第i类外,其余各等价类的被选择概率,pi是上一步中被选择的等价类Ci在当前测试剖面中的被选择概率;

B.若没有发现缺陷,则令

pi=pi-ϵifpiϵ0ifpi<ϵ]]>

pj=pj+ϵm-1ifpiϵpj+Pim-1ifpi<ϵforji---(2)]]>

其中,ε是测试剖面动态调整的参数;m是测试用例等价类个数;pj是除第i类外,其余各等价类的被选择概率,pi是上一步中被选择的等价类Ci在当前测试剖面中的被选择概率;

步骤四:根据调整后的测试剖面选择一个测试用例集合,从中随机选择测试用例,并进行测试;

步骤五:再次根据测试的结果,即有无发现缺陷,对测试剖面进行调整,调整的规则同步骤三;

步骤六:依此类推,直到发现和剔除全部缺陷及满足其他测试终止条件。

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