[发明专利]一种透明导电薄膜材料的制备方法无效
申请号: | 200910089144.8 | 申请日: | 2009-07-31 |
公开(公告)号: | CN101619445A | 公开(公告)日: | 2010-01-06 |
发明(设计)人: | 庞晓露;高克玮;于广华;杨会生;刘泉林;王燕斌 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种透明导电薄膜材料的制备方法,涉及导电薄膜材料的制备。本发明采用中频反应磁控溅射系统,通过控制制备前基体在等离子体中清洗和刻蚀,制备过程中采用纯度较高的金属Al靶和高纯度ZnO靶进行双靶共溅射并由等离子体辅助,制备结束后进行等离子体刻蚀技术,通过控制养损耗解决低温沉积不能得到较高的透光率、较低的电阻率的透明导电薄膜。本发明简单易行,有效解决了金属元素比例难以控制的问题,所有原料都比较常见,并且无污染、工艺简单,可以使用现有的ITO生产线,不需要升级改造既可实现工业化生产,具有重要的研究价值和广阔的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 透明 导电 薄膜 材料 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一种透明导电薄膜材料的制备方法,其特征在于,采用中频反应磁控溅射系统沉积Al掺杂氧化锌薄膜,靶材为纯度99.99%的铝和99.99%的氧化锌,双靶共溅射并连接ALS-150R霍尔离子源,靶和离子源位分别固定在真空室内,其中离子源、双靶及基片的中心处于同一平面内,基片中心到双靶中心的距离相等,距离为80-120mm,基片以转速30-60r/min旋转,调整经过预溅射的铝靶,打开ZnO靶调整功率到250W开始溅射,同时基体上加30-60V的负直流偏压,溅射结束后用霍尔离子源在1-3A的阳极电流下对样品进行10-20分钟的刻蚀。
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