[发明专利]高层建筑激光内控竖向分段测量方法有效
| 申请号： | 200910087459.9 | 申请日： | 2009-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN101592481A | 公开（公告）日： | 2009-12-02 |
| 发明（设计）人： | 张士林 | 申请（专利权）人： | 中冶集团华冶资源开发有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26;G01B5/02;G01C1/02 |
| 代理公司： | 北京鸿元知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈英俊 |
| 地址： | 100176北京市北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种高层建筑激光内控竖向分段测量方法，包括以下步骤：a)把建筑物在整个高度上分成多段；b)在建筑物内的±0平面设置内控点，以后在每段的首层地板上设置内控点，并校正位置；c)在各层楼板的相应位置上预留传递孔，以内控点为依据，通过预留孔将其点位垂直投测到各段的楼层；d)校正误差、检测复核，直至符合误差要求。利用该测量方法，测试结果精确，可以明显提高建筑物主体全高的垂直度，延长建筑物使用寿命，同时可以节省外墙找平材料。 | ||
| 搜索关键词： | 高层建筑 激光 内控 竖向 分段 测量方法 | ||
【主权项】：
1、一种高层建筑激光内控竖向分段测量方法，其特征在于，包括以下步骤：a)把建筑物在整个高度上分成多段；b)在建筑物内的±0平面设置内控点，以后在每段的首层地板上设置内控点，并校正位置；c)在各层楼板的相应位置上预留传递孔，以内控点为依据，通过预留孔将其点位垂直投测到各段的楼层；d)校正误差、检测复核，直至符合误差要求。
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