[发明专利]一种基于Sagnac干涉仪的保偏光纤拍长测试方法及测试装置

摘要

一种保偏光纤拍长测试方法及装置，根据一种由光纤耦合器和待测保偏光纤组成的混合光纤Sagnac干涉仪的透射谱的光谱调制特性，基于透射光谱的极值点特征，建立保偏光纤拍长测试的数值模型，对使用光谱测试装置获得的透射光谱的相邻极值点间的波长差进行测试，实现拍长的测试。对待测保偏光纤长度参数进行优化，建立获取光纤最佳测试长度的数学模型，在此长度下进行光纤的高精度拍长测试。本发明提供的保偏光纤拍长测试方法原理简单，在最佳测试长度下进行的拍长测试，精度可达到0.01mm。测试装置采用全光纤结构，成本低，适应性强，抗干扰能力强，对待测光纤的拍长没有限制，测试方法和装置适用于各种范围的保偏光纤的拍长测试，装置结构简单，操作方便。

主权项

1一种基于Sagnac干涉仪的保偏光纤拍长测试方法，其特征在于步骤如下：(1)测量待测保偏光纤的长度L；(2)获取由光纤耦合器和待测保偏光纤组成的混合光纤Sagnac干涉仪的透射谱中相邻两个极大值或两个极小值间的波长差Δλ；(3)获取透射谱中相邻两个极大值或两个极小值间的平均波长λ；(4)将L，Δλ，λ值代入建立的保偏光纤拍长测试数学模型LB=Δλ·Lλ‾]]>中，得到粗测拍长值L_B0，其中L_B表示待测保偏光纤的拍长；(5)利用待测保偏光纤最佳测试长度的数学模型Lo=λ‾·LB0·eL/eλ ,]]>获得待测保偏光纤最佳测试长度L_o，其中λ表示透射谱中所选相邻两个极大值或两个极小值间的平均波长，L_B0表示待测保偏光纤的粗测拍长值，e_L表示待测保偏光纤长度测量误差，e_λ表示光谱测试装置的波长测量误差；(6)在步骤(5)中得到的待测保偏光纤最佳测试长度L_o下，重复上述步骤1、2、3、4、5，直至获得高精度测量的保偏光纤拍长值。