[发明专利]抗电磁辐射织物仿真测试仪无效

专利信息
申请号: 200910074176.0 申请日: 2009-04-20
公开(公告)号: CN101526486A 公开(公告)日: 2009-09-09
发明(设计)人: 李瑞洲;张丽娟;庞金玲;敖利民;贾立霞 申请(专利权)人: 河北科技大学
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G01R31/00
代理公司: 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 代理人: 李羡民;高锡明
地址: 050018河*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 一种抗电磁辐射织物仿真测试仪,用于解决纺织材料的仿真与测试问题。其技术方案是:构成中包括矢量网络分析仪和法兰同轴装置,法兰同轴装置连接于矢量网络分析仪的插损或回损测试回路中,在法兰同轴装置的中部设置试样架,试样架的外缘上设有间隔均匀的绕线豁口,其中,对边上绕线豁口的间距设置相同,在试样架中心设有与法兰同轴装置内的空腔同轴的圆孔,构成待测试织物的电磁线缠绕在绕线豁口上。本发明能对不同密度电磁线排列的织物进行仿真和测试,进而为设计满足要求的防电磁辐射纺织品提供可靠准确的数据依据,而且结构简单,能对软、硬平面材料进行精确测试。
搜索关键词: 电磁辐射 织物 仿真 测试仪
【主权项】:
1、一种抗电磁辐射织物仿真测试仪,构成中包括矢量网络分析仪(1)和法兰同轴装置(2),法兰同轴装置(2)连接于矢量网络分析仪(1)的插损或回损测试回路中,其特征是:在法兰同轴装置(2)的中部设置试样架(10),试样架(10)的外缘上设有间隔均匀的绕线豁口,其中,对边上绕线豁口的间距设置相同,在试样架中心设有与法兰同轴装置(2)内的空腔同轴的圆孔,构成待测试织物的电磁线缠绕在绕线豁口上。
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