[发明专利]一种电磁超声测厚仪及其测量方法

摘要

本发明提供一种可在各种恶劣环境下对试件厚度进行测量的电磁超声测厚仪及其测量方法。它是由微控制器、发射电路、电磁超声探头、接收开关、调理电路、回波处理系统、显示系统和键盘组成的。微控制器连接发射电路，发射电路连接电磁超声探头，电磁超声探头连接接收开关，接收开关连接微控制器，接收开关连接调理电路，调理电路连接回波处理系统，显示系统连接微控制器，键盘连接微控制器。本发明采用垂直入射体波进行测厚，测量精度是同频率压电超声测厚仪的2倍。电磁超声探头，采用脉冲电磁铁提供磁场，对各种金属试件都可以进行高效检测；采用收发分离式线圈激发和检测超声波，具有较小的测量盲区，测量厚度范围可达3mm～200mm。

主权项

一种电磁超声测厚仪，它是由微控制器(1)、发射电路(2)、电磁超声探头(3)、接收开关(4)、调理电路(5)、回波处理系统(6)、显示系统(7)和键盘(8)组成的，其特征在于：微控制器(1)连接发射电路(2)，发射电路(2)连接电磁超声探头(3)，电磁超声探头(3)连接接收开关(4)，接收开关(4)连接微控制器(1)和调理电路(5)，调理电路(5)连接回波处理系统(6)，显示系统(7)连接微控制器(1)，微控制器(1)连接键盘(8)。