[发明专利]连铸保护渣X射线荧光光谱分析方法无效
申请号: | 200910068026.9 | 申请日: | 2009-03-05 |
公开(公告)号: | CN101498675A | 公开(公告)日: | 2009-08-05 |
发明(设计)人: | 边立槐;殷宏;杨觎;孙颖 | 申请(专利权)人: | 天津钢铁有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 天津市鼎和专利商标代理有限公司 | 代理人: | 冯舜英 |
地址: | 300301天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种连铸保护渣X射线荧光光谱分析方法,主要包括以下步骤:1)校准样品采用高炉炉渣标样、萤石标样、焦炭成分标样混合制成;2)用熔融法将上述各个合成标准样品分别制成可供X射线荧光光谱仪分析的标准样片;3)用X射线荧光光谱仪对熔制好的样片中的一个或几个分别进行扫描;4)对各个标准样片按照基础分析条件用X射线荧光光谱仪分别进行测量;5)用熔融法将待测样品制成可供X射线荧光光谱仪分析的被测样片;6)被测样品分析:再用X荧光光谱仪对被测样片进行X荧光光谱分析。 | ||
搜索关键词: | 保护 射线 荧光 光谱分析 方法 | ||
【主权项】:
1、一种连铸保护渣X射线荧光光谱分析方法,其特征在于,主要包括以下步骤:1)校准样品采用高炉炉渣标样、萤石标样、焦炭成分标样混合制成,使合成的标准样品中各元素含量覆盖全部保护渣成分范围;2)用熔融法将上述各个合成标准样品分别制成可供X射线荧光光谱仪分析的标准样片;3)用X射线荧光光谱仪对熔制好的样片中的一个或几个分别进行扫描,建立基础分析条件,如角度、分光晶体、准直器、PHD范围;4)对各个标准样片按照基础分析条件用X射线荧光光谱仪分别进行测量,添加修正因素,建立标准曲线;5)用熔融法将待测样品制成可供X射线荧光光谱仪分析的被测样片;6)被测样品分析:再用X荧光光谱仪对被测样片进行X荧光光谱分析,计算机及其测量软件根据前述修正的标准曲线自动计算出各元素含量并储存在计算机中,利用与X射线荧光光谱仪配套的输出设备将测得的各元素含量打印或显示在显示屏上。
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