[发明专利]基于干涉条纹形状的二维小角度测量装置无效
申请号: | 200910061971.6 | 申请日: | 2009-05-06 |
公开(公告)号: | CN101545762A | 公开(公告)日: | 2009-09-30 |
发明(设计)人: | 翟中生;王选择;钟毓宁;曹洪端;杨练根 | 申请(专利权)人: | 湖北工业大学 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 430068湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于干涉条纹形状的二维小角度测量装置,属于精密测量技术领域。该装置包括激光器、分光镜、目标反射镜、参考反射镜和四象限接收器,目标反射镜固定在被测物体上。激光调制器对激光器发出的光束进行调制,被调制的光束经分光镜后分为两束,这两束光分别经目标反射镜和参考反射镜反射后再返回分光镜,会聚产生动态干涉条纹,当被测物体绕z轴有角度变化时,动态干涉条纹的宽度将发生变化,当被测物体绕x轴有角度变化时,动态干涉条纹的宽度和方向同时改变。动态干涉条纹用四象限光电接收器接收后转为电信号,该信号经电流-电压转换后采集到计算机中,通过分析条纹宽度和方向的变化量,计算出被测物体绕x轴、z轴的角度变化量。本装置的优点在于采用波长调制法,重复性好、抗干扰能力强,并且结构简单、体积小、精度高,精度可达0.03arcsec。 | ||
搜索关键词: | 基于 干涉 条纹 形状 二维 角度 测量 装置 | ||
【主权项】:
1、一种高精度二位角度测量装置,其特征在于该装置包括:激光器(1)、激光调制器(2)、分光镜(3)、目标反射镜(4)、参考反射镜(5)和四象限光电接收器(6),目标反射镜(4)固定在被测物体上,用激光调制器(2)对激光器(1)进行调制,调制后的光束经分光镜(3)后分为两束,经目标反射镜(4)和参考反射镜(5)反射后再返回分光镜(3),会聚产生动态干涉条纹,动态干涉条纹用四象限光电接收器(6)接收后转为电信号,该信号经放大后采集到计算机(7)。
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