[发明专利]一种测量范围可扩展的调焦调平装置及调焦调平方法有效

专利信息
申请号: 200910057985.0 申请日: 2009-09-29
公开(公告)号: CN102033438A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 潘炼东;李志丹;陈飞彪;张冲 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G03F9/00 分类号: G03F9/00;G03F7/20
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 王光辉
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种测量范围可扩展的调焦调平装置,该装置包括:光源;光学投影单元,接收光源发出的光并将其照射到被测硅片表面形成测量光斑矩阵W;光学接收单元,接收由被测硅片反射的光;光学调制单元,具有扫描反射镜,所述扫描反射镜在测量调平时作正弦振动;接收狭缝面,该狭缝面上具有与硅片上的各个光斑一一对应的狭缝的狭缝矩阵S,经由扫描反射镜反射的光斑成像于该接收狭缝面上;光电探测器,将穿过狭缝的光能量信号转化为电信号;控制单元,对光电探测器输出的电信号进行分析处理;其中,在接收狭缝面上还具有位于狭缝矩阵边缘的扩展狭缝,用于扩展调焦调平装置的测量范围。本发明还公开了使用该装置进行调焦调平的方法。
搜索关键词: 一种 测量 范围 扩展 调焦 平装 平方
【主权项】:
一种测量范围可扩展的调焦调平装置,该装置包括光源;光学投影单元,接收光源发出的光并将其照射到被测硅片表面形成测量光斑矩阵W;光学接收单元,接收由被测硅片反射的光斑;光学调制单元,其具有扫描反射镜,所述扫描反射镜在测量调平时作正弦振动;接收狭缝面,该狭缝面上具有与硅片上的各个光斑一一对应的狭缝的狭缝矩阵S,经由扫描反射镜反射的光斑成像于该接收狭缝面上;光电探测器,将穿过狭缝的光能量信号转化为电信号;控制单元,对光电探测器输出的电信号进行分析处理;其特征在于,在接收狭缝面上还具有位于狭缝矩阵边缘的扩展狭缝,用于扩展调焦调平装置的测量范围。
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