[发明专利]等光程五面视觉检测技术无效

专利信息
申请号: 200910056450.1 申请日: 2009-08-14
公开(公告)号: CN101650155A 公开(公告)日: 2010-02-17
发明(设计)人: 张健欣;胡俊韡 申请(专利权)人: 秦拓微电子技术(上海)有限公司;张健欣;胡俊韡
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/30;G01B11/02;G01N21/84;G01N21/88;G02B27/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201206上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明是一种新的视觉检测技术,可以对IC元器件1进行视觉外观检测。重点包括:1.利用偏振分光棱镜21的偏光特性及折射特性,改善图像。2.通过反射系统的调整,根据元器件的尺寸进行视场的缩放。3.一组光源31和另一组光源32对需求不同的检测面41,42、43、44、45进行照射。4.利用镀膜玻璃22的单面反射性质进行成像。利用偏振分光棱镜不仅能对光路进行起偏,达到改善图像的作用,而且能够使不同的检测面41,42、43、44、45与中央图像46的视在光程相同。这样就用一个相对简便的方法实现了多面图像优化。
搜索关键词: 光程 视觉 检测 技术
【主权项】:
1.一种对电子元器件进行视觉外观检测的系统:所述用于显示电子元器件1的中央图像41,以及同一物体至少一个横侧面图像42,43,44,45的光学系统。选用偏振分光棱镜21作为折射及偏振装置,该棱镜有良好的起偏性能。同时又具有理想的折射率。镀膜玻璃22能够让侧面强定向聚光源光源31射入,而把横侧面图像42,43,44,45的绝大部分光反射入相机1。光源32能够使相机能够得到清晰的金属轮廓和凹凸缺陷。强定向聚光源31能够给予电子元器件1良好的照明而不对中央图像41产生影响。中央图像41的视在光程长度和至少一个横侧面图像42,43,44,45的视在光程长度相等。
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