[发明专利]一次可编程电阻型存储器测试方法有效
| 申请号： | 200910050100.4 | 申请日： | 2009-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN101872649A | 公开（公告）日： | 2010-10-27 |
| 发明（设计）人： | 林殷茵;尹明;金钢;吴雨欣;张佶 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 包兆宜 |
| 地址： | 20043*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于存储器技术领域，涉及一种一次可编程电阻型存储器测试方法。本发明利用一次可编程电阻型存储器的存储介质具有多次擦写容限的能力，在测试过程中进行擦除操作验证、存储功能验证和可靠性作测试。利用该测试方法可以大大提高一次可编程电阻型存储器的产品出厂良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一次 可编程 电阻 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种一次可编程电阻型存储器测试方法，用于具有多次编程能力的一次可编程电阻型存储器的测试，其特征在于，包括以下步骤：(1)对所述存储器的逐个存储单元进行擦除操作验证；(2)对所述存储器的逐个存储单元进行存储功能验证；(3)对所述存储器进行可靠性测试。
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