[发明专利]一种用于叶片中心孔测量的检测方法及专用测具有效
申请号: | 200910030804.5 | 申请日: | 2009-04-15 |
公开(公告)号: | CN101526330A | 公开(公告)日: | 2009-09-09 |
发明(设计)人: | 杨灿人 | 申请(专利权)人: | 无锡透平叶片有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) | 代理人: | 刘瑞平 |
地址: | 214023*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于叶片中心孔测量的检测方法,其检测方法简单,检测速度快,能有效提高检测效率,检测精度高。为此,本发明还提供路了一种用于叶片中心孔测量的检测专用测具。其包括塞尺,其特征在于:其还包括中心孔测头和辅助测量板。检测时,将叶片定位夹装到型面测具上,在叶片中心孔内放入所述中心孔测头,然后装上所述辅助测量板,保证所述辅助测量板卡脚与型面测具框架端面贴合,其间隙为0,用手轻轻压住所述中心孔测头,再用所述塞尺检测所述中心孔测头外圆与所述辅助测量板基准面之间的间隙值,即可出叶片中心孔的实际位置。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 叶片 中心 测量 检测 方法 专用 | ||
【主权项】:
1、一种用于测量叶片中心孔的检测方法,其特征在于:检测时,将叶片定位夹装到型面测具上,在叶片中心孔内放入所述中心孔测头,然后装上所述辅助测量板,保证所述辅助测量板卡脚与型面测具框架端面贴合,其间隙为0,用手轻轻压住所述中心孔测头,再用所述塞尺检测所述中心孔测头外圆与所述辅助测量板基准面之间的间隙值,即可出叶片中心孔的实际位置。
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