[发明专利]交流毫欧表的二端对测试方法无效
申请号: | 200910029466.3 | 申请日: | 2009-04-14 |
公开(公告)号: | CN101539598A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
发明(设计)人: | 朱正伟;何可人 | 申请(专利权)人: | 江苏工业学院 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 | 代理人: | 汪旭东 |
地址: | 2130*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于测量电阻的交流毫欧表的二端对测试方法,先将一根同轴电缆的一端和激励源电路相连接,该同轴电缆的屏蔽层与激励源电路地线相连接;将另一根同轴电缆的一端和采样电路相连接,该同轴电缆屏蔽层和采样电路负端输入相连,其内芯线和采样电路正端输入相连;两根同轴电缆的另一端分别连接被测件的两端;使激励电流流经同轴电缆的内芯,再流经被测件,再由同轴电缆的屏蔽层流回激励源;采样回路的电流流经同轴电缆的内芯,再流经被测件,由同轴电缆的屏蔽层流回采样电路。本发明减小了激励回路和采样回路的面积,有效降低噪声耦合,抑制了磁场耦合干扰,显著提高抗干扰性能,提高测试精度。 | ||
搜索关键词: | 交流 毫欧表 测试 方法 | ||
【主权项】:
1、一种交流毫欧表的二端对测试方法,其特征是按如下步骤:1)将一根同轴电缆(L1)的一端和激励源电路相连接,该同轴电缆(L1)的屏蔽层与激励源电路地线相连接;将另一根同轴电缆(L2)的一端和采样电路相连接,该同轴电缆(L2)屏蔽层和采样电路负端输入相连,其内芯线和采样电路正端输入相连;两根同轴电缆的另一端分别连接被测件(Zx)的两端;2)使激励电流(ic)流经同轴电缆(L1)的内芯,再流经被测件(Zx),再由同轴电缆(L1)的屏蔽层流回激励源;3)采样回路的电流(is)流经同轴电缆(L2)的内芯,再流经被测件(Zx),由同轴电缆(L2)的屏蔽层流回采样电路。
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