[发明专利]个人计算机母板串行寻址存储器模块故障诊断

摘要

本发明是个人计算机母板串行寻址存储器模块故障诊断。一测试转接器板连接至一个人计算机母板，以测试一测试插座上存储器模块。自组件面上的目标DRAM模块插槽移除标准存储器模块插座，并将测试转接器板连接至母板的反(焊接)面上的目标DRAM模块插槽。目标DRAM模块插槽为一中间插槽，例如四个目标DRAM模块插槽中的第二或第三个目标DRAM模块插槽。于第一及第四个目标DRAM模块插槽中植入已知良好存储器模块，以将BIOS存储于一高位地址以及将操作系统图像与测试程序存储于一低位地址。测试程序将存取测试插座中的存储器模块以探测缺陷。由于BIOS、操作系统图像以及测试程序未存储至被测存储器模块中，故母板不会停止运作。

主权项

一种母板测试器，用以在不使存储器模块停止运作的情况下，探测存储器模块内的缺陷，其特征在于包含：测试转接器板，具有测试插座，测试插座是用以接合被母板测试器所测试的被测存储器模块，测试转接器板将插入至测试插座上的被测存储器模块电性连接至与测试转接器板相接的母板，母板将测试插座上的被测存储器模块作为母板的主要存储器的中间部份使用；母板，是用于计算机的主板，计算机将存储器模块作为主要存储器使用；第一模块插槽，位于母板上且连接至母板的组件面上的第一存储器模块插座，以及具有已插入的第一已知良好存储器模块；第二模块插槽，连接至母板的组件面上第二存储器模块插座的位置并连接至测试转接器板，其中已插入于测试转接器板上测试插座的被测存储器模块电性连接至第二模块插槽；第三模块插槽，位于母板上且电性连接至母板的组件面上的第三存储器模块插座，以及具有已插入的第二已知良好存储器模块；基本输入输出系统的副本，存储于第二已知良好存储器模块；操作系统图像，存储于第一已知良好存储器模块；测试程序，存储于第一已知良好存储器模块，其中测试程序由母板上的处理器所执行，以使被测存储器模块内的存储位置可被读取及写入而不会导致母板停止运作；以及缺陷位置，位于被测存储器模块中，可被执行于处理器的测试程序所识别出，并回报至用户；藉此，测试程序识别出缺陷位置，且因测试程序未加载至被测存储器模块中，故母板不会停止运作。