[发明专利]具有检测单元阵列的微电子传感器设备无效

专利信息
申请号: 200880108575.8 申请日: 2008-09-19
公开(公告)号: CN101952708A 公开(公告)日: 2011-01-19
发明(设计)人: P·J·W·范兰克维尔特;J·H·纽文休斯;H·范佐恩 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06;G01N33/543;G01R33/12;G01N15/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周红力;谭祐祥
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及一种微电子传感器设备,其具有检测单元(10)的行(R4,R5)和列(C1,C2)的矩阵阵列,其中每个检测单元包括用于将靶粒子(例如磁珠)转移到激活状态的激活元件(30)以及用于检测激活的靶粒子的传感器元件(20)。依照一个优选的实施例,所述矩阵的每行的激活元件(20)以及所述矩阵的每列的传感器元件(20)串联连接。通过激活一行并且读出一列,因而可以利用有限数量的列地址和行地址电路来单独地寻址每个检测单元(10)。
搜索关键词: 具有 检测 单元 阵列 微电子 传感器 设备
【主权项】:
一种微电子传感器设备(100,200),具有检测单元(110,210)行(R1‑R5)和列(C1‑C6)的矩阵阵列,用于检测接触表面处的靶粒子,其中每个检测单元(110,210)包括‑至少一个传感器元件(120,220),其用于提供与呈现某种激活状态的靶粒子的检测相应的检测信号,以及‑至少一个激活元件(130,230),其用于将靶粒子转移到所述激活状态,其中每行(R1‑R5)中的激活元件(130,230)在关联的行访问电路(RAC4,RAC2)中与公共的行访问触点连接,并且其中每列(C1‑C6)中的传感器元件(120,220)在关联的列访问电路(CAC3,CAC1)中与公共的列访问触点连接,该微电子传感器设备(100,200)还包括‑控制部件(140,240),其用于经由关联的行访问触点选择性地访问行访问电路(RAC4,RAC2),‑以及读出部件(150,250),其用于经由关联的列访问触点选择性地访问列访问电路(CAC3,CAC1)。
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