[发明专利]用于具有单元间干扰的闪存的序列检测有效
| 申请号： | 200880104940.8 | 申请日： | 2008-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN102007539A | 公开（公告）日： | 2011-04-06 |
| 发明（设计）人： | 阳学仕;吴子宁 | 申请（专利权）人： | 马维尔国际贸易有限公司 |
| 主分类号： | G11C7/02 | 分类号： | G11C7/02;G11C7/10 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宋鹤;南霆 |
| 地址： | 巴巴多斯*** | 国省代码： | 巴巴多斯;BB |
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| 摘要： | 一种存储器集成电路(IC)包括读取模块和序列检测器模块。读取模块读取沿位线和字线之一设置的S个存储单元(单元)并且生成S个读取信号，这里S是大于1的整数。序列检测器模块基于S个读取信号和参考信号检测数据序列。该数据序列包含存储在S个单元中的数据。每个参考信号包含与S个单元中的一个单元相关的无干扰信号以及与S个单元中的另一个单元相关的干扰信号，所述S个单元中的另一个单元与所述S单元中的一个单元相邻。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 具有 单元 干扰 闪存 序列 检测 | ||
【主权项】：
一种存储器集成电路(IC)，包括：读取模块，其读取沿位线和字线之一设置的S个存储器单元(单元)并且生成S个读取信号，这里S是大于1的整数；以及序列检测器模块，其基于所述S个读取信号和参考信号检测数据序列，其中所述数据序列包含存储在所述S个单元中的数据，并且其中每个所述参考信号包括与所述S个单元中的一个单元相关的无干扰信号、以及与所述S个单元中的另一个单元相关的干扰信号，其中所述S个单元中的所述另一个单元与所述S个单元中的所述一个单元相邻。
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