[发明专利]使用有源探针集成电路的电子电路的测试无效
| 申请号： | 200880018711.4 | 申请日： | 2008-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN101680914A | 公开（公告）日： | 2010-03-24 |
| 发明（设计）人： | S·斯卢普斯凯;B·莫尔;C·V·塞拉塔蒙比 | 申请（专利权）人： | 斯卡尼梅特里科斯有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/30;G01R1/07;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 邬少俊;王 英 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 提供了一种用于在自动测试设备(ATE)与待测设备(DUT)之间传输/接收信号的方法和装置。探针卡具有连接至多个探针的多个相关联的邻近有源探针集成电路(APIC)。每一个APIC通过探针与位于DUT上的一个或者多个测试接口点交互。每一个APIC接收和处理在ATE与DUT之间传送的信号。将由ATE传输的低信息内容信号处理为高信息内容信号以传输到紧邻该APIC的探针，并且将由APIC从DUT接收的高信息内容或者时间关键信号作为低信息内容信号传输到ATE。由于APIC紧邻探针，在来自DUT的信号中存在信息的最小损耗或者失真。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 有源 探针 集成电路 电子电路 测试 | ||
【主权项】：
1、一种探针卡，包括：至少一个可再编程的有源探针集成电路(APIC)，所述有源探针集成电路能够耦合至各种探针阵列中的一个或者多个，使得选择所述一个或者多个探针阵列以适用于待测设备(DUT)并且对所述APIC进行编程以适用于所述一个探针阵列和所述DUT。
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