[发明专利]用于确定价态的小斑高能量分辨的XRF系统有效
| 申请号： | 200880016090.6 | 申请日： | 2008-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN101883980A | 公开（公告）日： | 2010-11-10 |
| 发明（设计）人： | 陈泽武;李丹红 | 申请（专利权）人： | X射线光学系统公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 苗征;于辉 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种确定样品价态的X射线荧光技术。提供了X射线激励路径以使用X射线激励样品；和检测路径以检测样品发射的荧光，并将所发射的荧光聚焦到焦斑。该检测路径可包括单色检测光学器件以聚焦该荧光；还可包括焦斑聚焦于其上的探测器。感应焦斑的精确的位置，从中可确定样品的价态；和/或该检测光学器件可跨越特定入射角度摆动，以改变布拉格条件，由此感应样品内的不同价态。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 高能量 分辨 xrf 系统 | ||
【主权项】：
一种用于确定样品价态的X射线荧光系统，其包括：X射线激励路径，用于使用X射线激励样品；X射线检测路径，用于检测从样品中发射的荧光，并聚焦该发射的荧光到焦斑；所述检测路径包括检测光学器件，用于聚焦该荧光；和所述检测路径进一步包括探测器，焦斑聚焦于其上，该检测器检测所述焦斑位置，从中确定所述样品的价态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于X射线光学系统公司，未经X射线光学系统公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200880016090.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于发光二极管底座的衬底以及发光二极管底座
- 下一篇：增强的冠状动脉观察
