[发明专利]用于大地测量仪的位置确定方法有效

专利信息
申请号: 200880015515.1 申请日: 2008-05-08
公开(公告)号: CN101680758A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 贝恩德·默勒 申请(专利权)人: 莱卡地球系统公开股份有限公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李 辉
地址: 瑞士海*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 在用于具有距离和角度测量功能的大地测量仪如全站仪(1)的位置确定方法中,确定大地测量仪与基准点集中的用反射器(2)标识的多个基准点(P1-Pn)的相对位置,其做法是分别测量大地测量仪相对基准点的距离(D1-Dn)和至少一个角度(i-n、θ1n)作为基准参数,其中基准参数在与测量仪相关的参考系中被确定。针对由基准点(P1-Pn)组成的基准点集和由其位置在外参考系中已知的可测参考点(A-G)的参考点集,识别共同元素,其中,由基准参数推导出基准点(P1-Pn)的相互相对位置,并且依据基准点(P1-Pn)的相对位置实现共同元素的识别和对应。在外参考系中的大地测量仪的位置(S)由共同元素及其在外参考系中的位置来确定。
搜索关键词: 用于 大地 测量仪 位置 确定 方法
【主权项】:
1.一种用于具有距离和角度测量功能的大地测量仪的位置确定方法,所述大地测量仪尤其是经纬仪或全站仪(1),所述位置确定方法包括由可测的参考点(A-G)构成的参考点集,这些参考点(A-G)的位置在外参考系中是已知的,并且所述位置确定方法包括:-确定大地测量仪与基准点集中的基准点(P1-P7)的相对位置,这是通过分别测量所述大地测量仪相对这些基准点的距离和至少一个角度作为基准参数来实现的,其中,所述基准参数是在与所述测量仪相关的参考系中确定的,并且所述基准点集和所述参考点集具有共同元素,-根据这些基准点(P1-P7)确定所述大地测量仪的在所述外参考系中的位置(S),所述位置确定方法的特征在于,-由所述基准参数推导出这些基准点(P1-P7)的相互相对位置,以及-依据这些基准点(P1-P7)的所述相对位置实现所述共同元素的识别和对应。
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