[发明专利]用于大地测量仪的位置确定方法有效
申请号: | 200880015515.1 | 申请日: | 2008-05-08 |
公开(公告)号: | CN101680758A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | 贝恩德·默勒 | 申请(专利权)人: | 莱卡地球系统公开股份有限公司 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李 辉 |
地址: | 瑞士海*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 大地 测量仪 位置 确定 方法 | ||
1.一种用于具有距离和角度测量功能的大地测量仪的位置确定方 法,所述位置确定方法包括由可测的参考点(A-G)构成的参考点集,这 些参考点(A-G)的位置在外参考系中是已知的,并且所述位置确定方法 包括:
-确定大地测量仪与基准点集中的基准点(P1-P7)的相对位置,这 是通过分别测量所述大地测量仪相对这些基准点的距离和至少一个角度 作为基准参数来实现的,其中,所述基准参数是在与所述测量仪相关的 参考系中确定的,并且所述基准点集和所述参考点集具有共同元素,
-根据这些基准点(P1-P7)确定所述大地测量仪的在所述外参考系 中的位置(S),
所述位置确定方法的特征在于,
-由所述基准参数推导出这些基准点(P1-P7)的相互相对位置,以 及
-依据这些基准点(P1-P7)的所述相对位置实现所述共同元素的识 别和对应。
2.根据权利要求1所述的位置确定方法,其特征在于,所述共同元 素的所述识别和对应是在确定所述大地测量仪的位置(S)之前进行的。
3.根据权利要求1所述的位置确定方法,其特征在于,所述共同元 素的识别和对应与所述大地测量仪的位置(S)的确定共同进行。
4.根据权利要求1至3之一所述的位置确定方法,其特征在于,确 定所述基准点(P1-P7)的相互相对间距。
5.根据权利要求4所述的位置确定方法,其特征在于,在所述识别 和对应过程中,将这些基准点(P1-P7)的相对间距与这些参考点(A-G) 的间距进行比较。
6.根据权利要求1所述的位置确定方法,其特征在于,产生表示这 些基准点(P1-P7)的相对排列的图形。
7.根据权利要求6所述的位置确定方法,其特征在于,所述识别和 对应是借助图像处理来进行的。
8.根据权利要求7所述的位置确定方法,其特征在于,
所述图像处理包括图形比较。
9.根据权利要求8所述的位置确定方法,其特征在于,
所述图形比较包括模板匹配。
10.根据权利要求6或7所述的位置确定方法,其特征在于,在识 别和对应过程中使所述图形围绕所述参考点(A-G)转动。
11.根据权利要求1所述的位置确定方法,其特征在于,借助图形优 化来完成所述识别和对应。
12.根据权利要求11所述的位置确定方法,其特征在于,这些基准 点(P1-P7)的相对位置将通过基准点图形来表示,所述基准点图形包含 作为交点的基准点(P1-P7)并且包含作为边的基准点(P1-P7)的相对间 距。
13.根据权利要求12所述的位置确定方法,其特征在于,这些基准 点(P1-P7)的相对位置以包含基准点(P1-P7)的所有相互相对间距的完 整基准点图形来表示。
14.根据权利要求11或12所述的位置确定方法,其特征在于,这些 参考点(A-G)的相对位置将通过参考点图形来表示,所述参考点图形包 含作为交点的参考点(A-G)并且包含作为边的参考点(A-G)的相对间 距。
15.根据权利要求11或12所述的位置确定方法,其特征在于,
这些参考点(A-G)的相对位置以包含参考点(A-G)的所有相互相 对间距的完整参考点图形来表示。
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