[发明专利]发射效率测量装置以及发射效率测量方法

摘要

在电波暗箱(1)的内部配置被测量天线(4A)和测量天线(5)。然后，在将被测量天线(4A)的仰角(φ)固定为第1角度(φ1)的状态下，使用网络分析器(7)测量第1方位角面发射模式(S21(R、θ、φ))。接下来，在将被测量天线(4A)的仰角(φ)固定为与第1角度(φ1)相差90度的第2角度(φ2)的状态下，使用网络分析器(7)测量第2方位角面发射模式(S21(R、θ、φ))。然后，通过将这2个面的方位角面发射模式(S21(R、θ、φ))按球状进行积分，测量被测量天线(4A)的发射效率。

主权项

1.一种发射效率测量装置，其构成为，具有：成为测量对象的被测量天线；测量天线，其设置在与该被测量天线相隔的距离长度为R的位置上；电磁场测量器，其与该测量天线连接，测量上述被测量天线所发射的电磁场；仰角切换单元，其将上述被测量天线切换为相对于仰角φ方向彼此相差90度的第1、第2角度φ1、φ2；方位角旋转单元，其将上述被测量天线相对于方位角θ方向旋转；第1发射模式测量单元，其在使用上述仰角切换单元将上述被测量天线的仰角φ切换为第1角度φ1的状态下，使用上述方位角旋转单元将上述被测量天线向方位角θ方向旋转，并使用上述电磁场测量器测量第1方位角面发射模式S21(R、θ、φ)；第2发射模式测量单元，其在使用上述仰角切换单元将上述被测量天线的仰角φ切换为第2角度φ2的状态下，使用上述方位角旋转单元将上述被测量天线向方位角θ方向旋转，并使用上述电磁场测量器测量第2方位角面发射模式S21(R、θ、φ)；和发射效率计算单元，其将测量频率的波长设为λ，将上述测量天线的增益设为G，将仰角φ方向的测量角度步长设为Δφ，将方位角θ方向的测量角度步长设为Δθ时，使用通过上述第1、第2发射模式测量单元所测量的第1、第2方位角面发射模式S21(R、θ、φ)，根据下列公式：$\mathrm{\η}=\frac{4\mathrm{\π}{R}^2\underset{\mathrm{\θ}}{\mathrm{\Σ}}\underset{\mathrm{\φ}}{\mathrm{\Σ}}S21^2(R,\mathrm{\θ},\mathrm{\φ})\sin \mathrm{\θ\Δ\φ\Δ\θ}}{{\mathrm{\λ}}^{2}G}$计算上述被测量天线的发射效率η。