[发明专利]小聚光点x射线荧光（XRF）分析仪

摘要

一种手持的、独立的x射线荧光(XRF)分析仪(200)在样本(604)上产生小x射线聚光点以询问样本(604)毫米大小特征尺寸的区域上的元素组分。该分析仪(200)包括用于将x射线光束(304)对准该样本(604)上期望位置的x射线光源。该分析仪(200)可以包括朝向该样本(604)的部分的数码相机(316)以使该分析仪(200)容易对准，该部分被或将要被该x射线聚光点询问。该分析仪可以在所显示的图像中生成刻线(908，910)以指示该样本(604)的该部分，该部分被或将要被该x射线光束(304)照亮。该分析仪(200)可以包括沿着该聚光点和该检测器(314)之间的光线路径定位的检测器准直仪(1200)。该分析仪(200)可以包括该光束(304)和该响应信号(312)所穿过的室和用于接收吹扫气体罐(2502)一端的联轴节，该吹扫气体罐用于向该室提供吹扫气体。该分析仪(200)可以包括可操作成检测该室中存在的周围气体量的感应器。公开一种校准目标(2200)和方法(2300-2308)用于校准该分析仪(200)中刻线的位置。

主权项

1.一种用于分析样本组分的手持的、独立的测试仪器(200)，该测试仪器(200)包括：光源(302)，用于产生在该样本(604)至少一部分上照亮聚光点的贯穿辐射光束(304)，从而产生来自该样本(604)的响应信号(312)；用于该光束(304)的光源准直仪(308)；用于接收该响应信号(312)并用于产生输出信号的检测器(314)；耦合到该检测器(314)上并被编程为处理来自该检测器的该输出信号的处理器以及为该光源和该处理器提供电力的电池(214)，其特征在于该测试仪器(200)包括：沿着该聚光点和该检测器(314)之间的光线路径定位的检测器准直仪(1200)，以便该响应信号(312)穿过该检测器准直仪(1200)之后到达该检测器(314)。