[发明专利]检测装置、检测方法及检测用集成电路有效
| 申请号： | 200880000536.6 | 申请日： | 2008-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN101542523A | 公开（公告）日： | 2009-09-23 |
| 发明（设计）人： | 富田裕人;渊上郁雄 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G06T1/00 | 分类号： | G06T1/00;G06T7/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 徐殿军 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 从输入图像检测出特定图像的检测装置，具有：区域确定单元，在上述输入图像中，确定上述特定图像能够存在的检测对象区域；设定单元，以用分别为一定尺寸的多个对照对象范围覆盖上述区域确定单元所确定的检测对象区域的方式，并且以各个对照对象范围与其他对照对象范围重叠规定宽度量的方式，来设定各对照对象范围的位置；以及对照单元，对于每个上述设定单元所设定的对照对象范围，对照该对照对象范围的图像和对照用图像，由此检测出上述特定图像。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 方法 集成电路 | ||
【主权项】：
1、一种检测装置，从输入图像检测出特定图像，其特征在于，具有：区域确定单元，在上述输入图像中，确定上述特定图像能够存在的检测对象区域；设定单元，以用分别为一定尺寸的多个对照对象范围覆盖上述区域确定单元所确定的检测对象区域的方式，并且以各个对照对象范围与其他对照对象范围重叠规定宽度量的方式，来设定各对照对象范围的位置；以及对照单元，对于每个上述设定单元所设定的对照对象范围，对照该对照对象范围的图像和对照用图像，由此检测出上述特定图像。
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