[实用新型]开关测试结构无效
| 申请号： | 200820126720.2 | 申请日： | 2008-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN201242588Y | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | 高永良;邱明辉 | 申请（专利权）人： | 磊鑫开发科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型是关于一种开关测试结构，包含一X轴伺服马达组、一Y轴伺服马达组、一θ轴伺服马达组、一固定元件，其中利用X轴伺服马达组做左右位移的动作、Y轴伺服马达组做上下位移的动作及滑轨行进动作，并由θ轴伺服马达组带动固定元件测试开关，形成一个开关测试结构。 | ||
| 搜索关键词： | 开关 测试 结构 | ||
【主权项】：
1. 一种开关测试结构，其特征在于，包含一X轴伺服马达组、一Y轴伺服马达组、一θ轴伺服马达组、一固定元件，所述的X轴伺服马达组连接所述的Y轴伺服马达组，所述的Y轴伺服马达组连接所述的θ轴伺服马达组，所述的θ轴伺服马达组带动所述的固定元件。
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