[实用新型]开关测试结构无效

专利信息
申请号: 200820126720.2 申请日: 2008-06-24
公开(公告)号: CN201242588Y 公开(公告)日: 2009-05-20
发明(设计)人: 高永良;邱明辉 申请(专利权)人: 磊鑫开发科技有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙皓晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 开关 测试 结构
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种测试开关的装置,特别涉及一种开关测试结构。

背景技术

现有开关测试结构,包含一汽缸、一凸轮,是利用汽缸及凸轮原理,仅做上下位移的动作没有左右位移的动作,精准度不高,无法做速率控制,显现不出其设定的速度、效率,而且一次仅测试一个开关元件,不符合经济效应,生产制造也较为缓慢,达不到市场的需求量。

总之,现有技术有如下缺点:

1.现有开关测试结构,利用汽缸或凸轮原理,做上下位移的动作所形成的,动作较为死板。

2.现有开关测试结构,无法做速率控制,显现不出其速度、效率。

3.现有开关测试结构,仅做上下位移的动作没有左右位移的动作,精准度不高。

4.现有开关测试结构,一次仅测试一个开关元件,不符合经济效应,生产制造也较为缓慢,达不到市场的需求量。

5.现有开关测试结构,仅有单工效果。

本实用新型创作人鉴于上述现有开关测试结构所衍生的各项问题及不足,加以改良创新,经多年苦心孤诣潜心研究后,终于成功研发完成本开关测试结构。

发明内容

本实用新型的主要目的是提供一种开关测试结构,以克服上述现有的开关测试结构的不足。

为了达到上述目的,本实用新型提供一种开关测试结构,包含一X轴伺服马达组、一Y轴伺服马达组、一θ轴伺服马达组、一固定元件,所述的X轴伺服马达组连接所述的Y轴伺服马达组,所述的Y轴伺服马达组连接所述的θ轴伺服马达组,所述的θ轴伺服马达组带动所述的固定元件,将上述成分结合后,即可成为一开关测试结构。

其中,X轴伺服马达组由X轴伺服马达、X轴伺服马达连接板、X轴连轴器、X轴滑轨组、X轴滑块、X轴衔接滑块固定座所组成,X轴伺服马达前端衔接X轴伺服马达连接板,X轴伺服马达连接板前端衔接X轴连轴器,X轴连轴器前端衔接X轴滑轨组,X轴滑轨组前端衔接X轴滑块,X轴滑块右边衔接X轴衔接滑块固定座;

Y轴伺服马达组由Y轴伺服马达、Y轴伺服马达连接板、Y轴连轴器、Y轴滑轨组、Y轴滑块、Y轴衔接滑块固定座所组成,Y轴伺服马达向下衔接Y轴伺服马达连接板,Y轴伺服马达连接板向下衔接Y轴连轴器,Y轴连轴器向下衔接Y轴滑轨组,Y轴滑轨组向下衔接Y轴滑块,Y轴滑块向下衔接Y轴衔接滑块固定座;

θ轴伺服马达组由θ轴伺服马达、减速机、减速机固定座、接开关拨杆所组成,θ轴伺服马达向下衔接减速机,减速机向下衔接减速机固定座,减速机固定座向下延伸衔接开关拨杆;

固定元件由支撑架、夹具固定底座、开关固定夹具,夹具固定底座、固定虎钳所组成,支撑架前端衔接夹具固定底座,夹具固定底座上方衔接开关固定夹具,夹具固定底座左边衔接固定虎钳。

本实用新型的有益效果在于:

1.本实用新型开关测试结构,通过自动控制测试,可测试单点、多点回路。

2.本实用新型开关测试结构,通过可编程控制器(PLC)控制自动切换串、并联回路。

3.本实用新型开关测试结构,串联回路主要是控制温升效应。

4.本实用新型开关测试结构,并联回路是要控制开关寿命。

5.本实用新型开关测试结构,不仅做上下位移的动作还有左右位移的动作,精准度高,速率控制,显现出其速度、效率。

6.本实用新型开关测试结构,一次测试多个开关元件,符合经济效应,生产制造迅速,可达到市场的需求量。

7.本实用新型开关测试结构,达到多工的效果。

附图说明

图1为本实用新型开关测试结构的结构组合示意图;

图2为本实用新型开关测试结构的动作示意图;

图3为本实用新型固定元件的结构组成示意图;

图4为本实用新型Y轴伺服马达组的结构组合示意图;

图5为本实用新型θ轴伺服马达组的结构组合示意图;

图6为本实用新型开关测试结构的实施动作示意图;

图7为本实用新型开关测试结构的实施应用单切开关示意图;

图8为本实用新型开关测试结构的实施应用按压开关示意图;

图9为本实用新型开关测试结构的实施应用拨动开关示意图;

图10为本实用新型开关测试结构的实施应用示旋转开关意图。

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