[实用新型]电路测试装置无效
| 申请号： | 200820125573.7 | 申请日： | 2008-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN201242587Y | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | 滕贞勇;许丽娇 | 申请（专利权）人： | 普诚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型揭露一种电路测试装置，用来测试一待测试元件所包括的一电容的电容值。电路测试装置包括有一量测模块、一第一转换模块、一处理模块以及一第二转换模块。量测模块提供一测试信号，并根据测试信号所产生的一信号量测结果来决定电容的电容值。第一转换模块耦接于量测模块，用以转换测试信号，产生一测试输入信号。处理模块耦接于第一转换模块以及待测试元件，用以将测试输入信号输入至电容，并对电容所产生一输出信号进行放大处理，产生一放大信号。第二转换模块用以对放大信号进行转换，以产生信号量测结果。本实用新型可以大幅降低测试成本且提升测试的便利性。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种电路测试装置，其特征在于，用来测试一待测试元件所包括的一电容的电容值，其中该电路测试装置包括有：一量测模块，用以提供一测试信号，并根据该测试信号所产生的一信号量测结果来决定该待测试元件的该电容的电容值；一第一转换模块，耦接于该量测模块，用以转换该测试信号，以产生一测试输入信号；一处理模块，耦接于该第一转换模块以及该待测试元件，用以将该测试输入信号输入至该电容，并对该电容所产生一输出信号进行放大处理，以产生一放大信号；以及一第二转换模块，耦接于该处理模块以及该量测模块，用以对该放大信号进行转换，以产生该信号量测结果。
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