[实用新型]电路测试装置

说明书

技术领域

本实用新型提供一种电路测试装置，尤指一种可用以测试待测试元件所包括的电容的电容值的电路测试装置。

背景技术

随着科技的进步，集成电路(Integrated Circuit，IC)的功能越来越强大，其重要性也与日遽增。除了单纯处理模拟信号的IC以及单纯处理数字信号的IC以外，业界还陆续研发出多种兼具数字信号与模拟信号处理能力的IC，此种IC一般可称为混合信号IC。而不论是数字信号IC、模拟信号IC或混合信号IC，为了确保IC出货时的品质，在完成制造过程之后，一般都会对每一IC执行测试，制造商会依据对IC执行测试的结果，来决定此IC是否合格，并据以判断是否可将此IC供应给下游的厂商。

请参阅图1，图1为一般使用专用测试机测试待测试元件的电容的电容值的示意图。一般现行的测试元件(IC)12皆会搭配各式各样的专用测试机10，来对待测试元件12的各种功能进行测试。如图1所示，当待测试元件12具有电容C时，如果要测试电容C的电容值，则必须使用专用测试机10才能达成，先由专用测试机10传送一测试信号S_T至待测试元件12，再由专用测试机测试电容C两端的信号，最后通过接收到的信号判断电容C的电容值，即能完成测试的动作。然而，专用测试机10的价格非常昂贵，且因为无法使用通用的测试机而必须使用专用测试机10才能进行电容值的测试，会带给使用者相当的不便，因此，如何能够发展一种可以利用常见的数字逻辑测试机测试待测试元件所包括的电容的电容值，有其必要性。

实用新型内容

因此，本实用新型的目的之一，在于提供一种电路测试装置，可以使用数字逻辑测试机来测试待测试元件内所包括的电容的电容值，以解决已知技术所面临的问题。

本实用新型提供一种电路测试装置，用来测试一待测试元件所包括的一电容的电容值。电路测试装置包括有一量测模块、一第一转换模块、一处理模块以及一第二转换模块。量测模块用以提供一测试信号，并根据该测试信号所产生的一信号量测结果来决定该待测试元件的该电容的电容值。第一转换模块耦接于该量测模块，用以转换该测试信号，以产生一测试输入信号。处理模块耦接于该第一转换模块以及该待测试元件，用以将该测试输入信号输入至该电容，并对该电容所产生一输出信号进行放大处理，以产生一放大信号。第二转换模块耦接于该处理模块以及该量测模块，用以对该放大信号进行转换，以产生该信号量测结果。

本实用新型所述的电路测试装置，该量测模块包括有：一量测单元(Precision Measure Unit，PMU)，用以接收该信号量测结果；一图样产生单元，耦接于该第一转换模块，用以根据一控制信号，产生该测试信号；以及一微处理器，耦接于该量测单元以及该图样产生单元，用以产生该控制信号，并且根据该信号量测结果来决定该待测试元件的该电容的电容值。

本实用新型所述的电路测试装置，该图样产生单元为一图样产生器(pattern generator)。

本实用新型所述的电路测试装置，该第一转换模块为一数字模拟转换器，用以将数字信号模式的该测试信号转换为模拟信号模式的该测试输入信号。

本实用新型所述的电路测试装置，该第二转换模块为一均方根-直流转换器(RMS-DC Converter)，用以将模拟信号模式的该放大信号转换为该信号量测结果，其中该信号量测结果为一直流电压值。

本实用新型所述的电路测试装置，该处理模块包括有：一第一开关，该第一开关的一端耦接于该第一转换模块；一第二开关；一第一电阻，该第一电阻的一端耦接于该第一开关，该第一电阻的另一端耦接于该第二开关；一第三开关，该第三开关的一端耦接于该第一转换模块，该第三开关的另一端耦接于该电容的一端；一第四开关，该第四开关的一端耦接于该电容的另一端；一放大器，该放大器包括有一正输入端、一负输入端以及一输出端，该放大器的负输入端耦接于该第二开关以及该第四开关的另一端，其正输入端耦接于一接地端，该放大器用以放大该输出信号，以产生该放大信号；一第五开关，该第五开关的一端耦接于该第一转换模块，另一端耦接于该放大器的该输出端；一第二电阻，耦接于该放大器的该输出端以及该负输入端之间；以及一第六开关，该第六开关的第一端耦接于该放大器的该输出端，其另一端耦接于该第二转换模块。

本实用新型所述的电路测试装置，该微处理器还包括产生至少一开关控制信号，以控制该第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关以及第六开关的开启或关闭，以使该放大器产生该放大信号。