[发明专利]一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪无效
| 申请号： | 200810229881.9 | 申请日： | 2008-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN101750265A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 李海洋;张娜珍 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N27/64 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人： | 马驰;周秀梅 |
| 地址： | 116023 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及飞行时间质谱仪，具体的说是一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪，其包括脉冲进样装置、束源室和带有电离室的飞行时间质谱质量分析器，其特征在于电离室位于飞行时间质量分析器内部，脉冲进样装置的前端连接脉冲阀，脉冲进样装置伸入束源室内部，束源室位于激光电离室正上方，其出口通过喷嘴与激光电离室相连，一纳秒长波长高能激光器设置于飞行时间质谱质量分析器的外侧，激光器发出的高能激光束垂直穿过电离室，将纳米粒子完全电离为一价和高价离子，其高价离子比值可以准确反映纳米粒子组成元素的比值，由飞行时间质谱仪记录电离产生的离子。本发明可快速的对纳米粒子元素比值进行测量，测量不受电离激光能量变化的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实时 测量 纳米 粒子 组成 元素 比值 飞行 时间 质谱仪 | ||
【主权项】：
一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪，包括脉冲进样装置(1)、束源室(2)和带有电离室(3)的飞行时间质谱质量分析器(4)，其特征在于：电离室(3)位于飞行时间质量分析器(4)内部，脉冲进样装置(1)的前端伸入束源室(2)内部，束源室(2)位于电离室(3)正上方，束源室(2)的出口处设置有一带有中心微孔的喷嘴(6)，束源室(2)通过喷嘴(6)与电离室(3)相连通，一纳秒激光器(16)设置于飞行时间质谱质量分析器(4)的外侧，激光器(16)发出的高能激光束(12)垂直穿过电离室(3)，将纳米粒子完全电离为其组成元素的一价和高价离子，从其高价离子比值可准确得到纳米粒子组成元素的比值，由飞行时间质谱仪(4)记录电离产生的离子。
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