[发明专利]影响机床轨迹控制精度的形位公差分析方法和装置有效
| 申请号： | 200810216689.6 | 申请日： | 2008-10-07 |
| 公开（公告）号： | CN101713643A | 公开（公告）日： | 2010-05-26 |
| 发明（设计）人： | 高云峰;肖俊君;宋福民 | 申请（专利权）人： | 深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及虚拟设计技术领域，公开了影响机床轨迹控制精度的形位公差分析方法和装置。所述方法包括：在机床的动力学模型中为关键零部件设置待分析形位公差；以机床的驱动力矩为输入信号，生成添加所述形位公差后的机床动力学模型，再由动力学模型生成对应的数学模型；调用相应的求解器对所述数学模型进行求解，获得所述形位公差所导致的机床运动轨迹的偏差。本发明实施例能够分析各零部件形位公差对机床动态性能的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 影响 机床 轨迹 控制 精度 公差 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种影响机床轨迹控制精度的形位公差分析方法，其特征在于，包括：在机床的动力学模型中为关键零部件设置待分析形位公差；以机床的驱动力矩为输入信号，生成添加所述形位公差后的机床动力学模型，再由动力学模型生成对应的数学模型；调用相应的求解器对所述数学模型进行求解，获得所述形位公差所导致的机床运动轨迹的偏差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司，未经深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810216689.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
