[发明专利]去HARQ实现方法和装置无效
| 申请号： | 200810214964.0 | 申请日： | 2008-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN101667883A | 公开（公告）日： | 2010-03-10 |
| 发明（设计）人： | 吴哲 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00;H04L1/18 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 尚志峰;吴孟秋 |
| 地址： | 518057广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种去HARQ实现方法和装置，其中，该去HARQ实现装置包括：去比特选择模块，用于分别对系统比特、第一路校验比特和第二路校验比特进行去比特选择，以串行方式获得参考系统比特、参考第一路校验比特和参考第二路校验比特；第二次去速率匹配模块，用于对参考系统比特、参考第一路校验比特和参考第二路校验比特进行第二次去速率匹配；第一次去速率匹配模块，用于对进行了第二次去速率匹配后的参考系统比特、参考第一路校验比特和参考第二路校验比特进行第一次打孔去速率匹配。借助于本发明的技术方案，实现了接收方向的去HARQ处理，且处理过程集中、高效，有益于数据的有效利用。 | ||
| 搜索关键词： | harq 实现 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种去HARQ实现装置，其特征在于，包括：去比特选择模块，用于分别对系统比特、第一路校验比特和第二路校验比特进行去比特选择，以串行方式获得参考系统比特、参考第一路校验比特和参考第二路校验比特；第二次去速率匹配模块，用于对所述参考系统比特、所述参考第一路校验比特和所述参考第二路校验比特进行第二次去速率匹配；第一次去速率匹配模块，用于对进行了第二次去速率匹配后的所述参考系统比特、所述参考第一路校验比特和所述参考第二路校验比特进行第一次打孔去速率匹配。
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