[发明专利]电子元件翻转测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 200810190330.6 申请日: 2008-12-31
公开(公告)号: CN101769942A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 黄钧鸿 申请(专利权)人: 京元电子股份有限公司
主分类号: G01R1/00 分类号: G01R1/00;G01R31/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种电子元件翻转测试装置及其测试方法。此电子元件翻转测试装置包含机座、枢接于此机座的载台、第一翻转机构、承载机构、以及第二翻转机构。第一翻转机构固接于上述机座,并连接至上述载台,用以提供上述载台进行第一旋向的运动,第二翻转机构则固接于上述载台,且连接至上述承载机构,用以提供上述承载机构相对于上述载台进行第二旋向的运动。此外本发明可设定不同的翻转角度与翻转速度,以进行电子元件的测试。
搜索关键词: 电子元件 翻转 测试 装置 方法
【主权项】:
一种电子元件翻转测试装置,主要包含:一机座;一载台,枢接于该机座;一承载机构,枢接于该载台,具有一测试承座与一盖体,该测试承座用以承载一电子元件,该盖体,用以固持已承载的电子元件;其特征在于:该电子元件翻转测试装置进一步包含一第一翻转机构以及一第二翻转机构,其中,该第一翻转机构固接于该机座,且连接至该载台,用以提供该载台进行第一旋向的运动,而该第二翻转机构固接于该载台,且连接至该承载机构,用以提供该承载机构相对于该载台进行第二旋向的运动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京元电子股份有限公司,未经京元电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810190330.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top