[发明专利]自动分析装置无效

专利信息
申请号: 200810181654.3 申请日: 2008-12-02
公开(公告)号: CN101452005A 公开(公告)日: 2009-06-10
发明(设计)人: 涩谷敏;中村和弘 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/02 分类号: G01N35/02
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 许 静
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种自动分析装置。在针对一个分析项目在装置中设置了多个试剂组的情况下,需要花费对每个试剂组生成检量线因子的工时,操作者的负担较重。另外,若将生成的检量线因子应用于在装置上设置的同一分析项目的全部试剂组,由于试剂制造批次号码的不同或试剂恶化而引起的反应特性的差异,有可能导致结果数据不正确。存储与从试剂开封后到试剂恶化为止的预定的规定时间、针对每个试剂组管理的试剂信息中的试剂制造批次号码、试剂开封时刻、试剂有效期限相关的检量线因子信息。对于试剂组的检量线因子,根据从试剂开封时刻开始的所述规定时间以及试剂有效期限,判断是否可以对装置上的同一制造批次号码的试剂组进行应用。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
1. 一种自动分析装置,其特征在于,具有针对每种试剂存储检量线的信息和该试剂是否有效的判断结果的存储单元,具有:在装置上架设了试剂时,在关于与该试剂相同的试剂在所述存储单元中已经存储了检量线的信息,并且该存储的试剂在有效期限内时,将该存储单元中存储的关于该试剂的检量线作为所架设的试剂的检量线的信息进行存储的单元。
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