[发明专利]流量测定装置有效
| 申请号： | 200810178246.2 | 申请日： | 2008-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN101441097B | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 斋藤直生;森野毅;冈本裕树;半泽惠二;鬼川博;保川彰夫 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G01F1/69 | 分类号： | G01F1/69;F02D41/18 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李贵亮 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 为防止用于测定空气流量的流量测定装置的流量测定元件因灰尘进入吸气管内而产生破损，本发明提供一种流量测定装置，其具有配置于流体流动的主通路内的副通路(8)和在一面侧上设有用于测定流量的发热电阻体的图案且配置在副通路内的平板状部件(5)，平板状部件上设有发热电阻体图案的面(5a)沿着副通路内的流体流配置，在平板状部件的面(5a)和副通路的通路形成面(8d)之间构成流体流动的发热电阻体图案侧流体通路部(8a)；在平板状部件的面(5a)的相反侧的面(5b)和副通路的通路形成面(8c)之间构成背面侧流体通路部(8b)，其中，在平板状部件的上游侧端部设有引导部(13)，该引导部将与该端部碰撞的灰尘引导向背面侧流体通路部(8b)侧。 | ||
| 搜索关键词： | 流量 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种流量测定装置，其具有副通路和配置在所述副通路内的平板状部件，所述副通路配置在流体流动的主通路内，所述平板状部件在一面侧设有用于测定流量的发热电阻体的图案，所述平板状部件上设有所述发热电阻体的图案的面沿着所述副通路内的流体流配置，在所述平板状部件的所述面和所述副通路的通路形成面之间构成流体流动的发热电阻体图案侧流体通路部，在所述平板状部件的所述面的相反侧的面和所述副通路的通路形成面之间构成背面侧流体通路部，所述流量测定装置的特征在于，在所述平板状部件的上游侧端部设有倾斜面，所述倾斜面以从所述发热电阻体图案侧流体通路部侧指向所述背面侧流体通路部侧的方式倾斜，所述倾斜面由比所述平板状部件软质且反弹系数低的部件形成，所述平板状部件的上游侧端部的倾斜面相反侧为非引导面，所述非引导面为与所述发热电阻体图案侧流体通路部侧的平面相同的平面。
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