[发明专利]标本分析仪及其控制系统有效

专利信息
申请号: 200810171520.3 申请日: 2008-10-17
公开(公告)号: CN101526542A 公开(公告)日: 2009-09-09
发明(设计)人: 西田智幸;工藤孝义;丰岛弘人 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N35/02 分类号: G01N35/02;G01N33/53;G01N33/86
代理公司: 北京金之桥知识产权代理有限公司 代理人: 梁朝玉;刘良勇
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种标本分析仪,它可以不用使用者下达开始定位处理的指示,自动进行分装部件的吸移管定位,从而可以防止吸移管破损和测定结果可信度下降。具体而言,公开一种标本分析仪,其包括:分装试剂或标本的吸移管;移动上述吸移管的吸移管移动装置;配置于一定位置的定位器;及定位实施手段,即用上述吸移管移动装置移动上述吸移管至定位用部件,实施确认吸移管已配置于一定位置的定位处理。另外本发明还提供一种标本分析仪控制系统。
搜索关键词: 标本 分析 及其 控制系统
【主权项】:
1.一种标本分析仪,包括:吸移管,用于分装试剂或标本;吸移管移动装置,用于移动所述吸移管;定位器,配置于所述吸移管移动装置可移动所述吸移管的位置;及定位实施手段,用所述吸移管移动装置移动所述吸移管,使所述吸移管配置于所述定位器内的一定位置,并实施定位处理,判断所移所述吸移管是否配置于所述一定位置。
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