[发明专利]X射线光栅相衬成像系统及方法有效
申请号: | 200810166472.9 | 申请日: | 2008-10-09 |
公开(公告)号: | CN101532969A | 公开(公告)日: | 2009-09-16 |
发明(设计)人: | 康克军;黄志峰;张丽;陈志强;李元景;刘以农;赵自然;刑宇翔 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;A61B6/03;G03B42/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 谭祐祥 |
地址: | 100084北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及X射线光栅相衬成像系统及方法,包括:X射线装置,向被检测物体发射X射线束;第一和第二吸收光栅,位于X射线束方向上,被检测物体折射的X射线经该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号;检测单元,接收强度变化的X射线并转换为电信号;和数据处理单元,处理并提取该电信号中折射角信息,并利用折射角信息计算出像素信息;成像单元,构建物体的图像。另外,还可用旋转结构旋转物体来实现CT成像,获得多个投影方向的折射角及相应图像,并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射率断层图像。根据本发明,使用通常的X光机、多缝准直器如源光栅,以及两个吸收光栅能够实现近分米量级视场的非相干条件下的相衬成像。 | ||
搜索关键词: | 射线 光栅 成像 系统 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种X射线光栅相衬成像系统,用于对物体进行透视成像,该系统包括:X射线发射装置,用于向被检测物体发射X射线束;第一和第二吸收光栅,位于X射线束的发射方向上,用于取得X射线束经过物体的折射角信息;检测单元,位于被检测物体和所述第一、第二吸收光栅的后面,用于接收经所述经被检测物体折射的X射线,并将其转换为可识别的电信号;以及数据处理单元,用于处理所述电信号并从其中计算出X射线束在所述物体的各平面位置处的折射角信息;成像单元,用于重建物体的图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学,未经同方威视技术股份有限公司;清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810166472.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:多媒体信号处理装置
- 下一篇:具有互锁设计的地板覆盖物