[发明专利]自动分析装置以及自动分析装置的分析方法无效
| 申请号： | 200810128039.6 | 申请日： | 2008-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN101344530A | 公开（公告）日： | 2009-01-14 |
| 发明（设计）人： | 井口晃弘;茂手木尚哉 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/02 | 分类号： | G01N35/02;G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种自动分析装置，其目的是根据与分析项目的灵敏度对应的基准来判定自动分析装置的反应容器空白值并判定能否使用反应容器。该自动分析装置具有：运算部，其能够根据分析项目的即将测量之前的反应容器空白值和定期测量的反应容器空白值的差的绝对值，以对于每一分析项目设定的多个判定基准来判定能否将反应容器使用于测量；以及在该运算部中判定为不在判定基准内时发生警报的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自动分析装置，其包括：使试料和试剂反应分析的反应容器；测量透过所述反应容器的光束的吸光度的测光部；以及将伴随所述吸光度的增加变动而增大的反应容器空白值与判定基准进行比较、判定能否将所述反应容器使用于测量的运算部，其特征在于，具有对每一分析项目确定不同的空白基准值的多个所述判定基准。
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