[发明专利]基于尺寸缩放估算的多采集仪间指纹交叉匹配方法有效
| 申请号： | 200810102316.6 | 申请日： | 2008-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN101539993A | 公开（公告）日： | 2009-09-23 |
| 发明（设计）人： | 田捷;张阳阳;杨鑫 | 申请（专利权）人： | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100080北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于尺寸缩放估算的多采集仪间指纹交叉匹配方法，该方法包括：A.粗略计算指纹方向场，并修正破碎区域中的方向值，依照修正后的方向场进行指纹增强；B.采用由粗到细的方法估算模板指纹和输入指纹之间的尺寸缩放值；C.采用基于细节点聚类的配准方法决定配准参数的候选值，并建立输入指纹和模板指纹间细节点序列间的对应关系；D.基于所有对应的细节点对计算归一化的相似度分数，实现基于尺寸缩放估算的多采集仪间指纹交叉匹配。利用本发明，能够有效、鲁棒地处理多种采集仪间指纹的交叉匹配，提高匹配方法的互用性，实现了多采集仪间指纹的鲁棒匹配，并可应用于多个采集仪并存的系统，在指纹识别领域具有重要的应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 尺寸 缩放 估算 采集 指纹 交叉 匹配 方法 | ||
【主权项】：
1、一种基于尺寸缩放估算的多采集仪间指纹交叉匹配方法，其特征在于，该方法包括：A、粗略计算指纹方向场，并修正破碎区域中的方向值，依照修正后的方向场进行指纹增强；B、采用由粗到细的方法估算模板指纹和输入指纹之间的尺寸缩放值；C、采用基于细节点聚类的配准方法决定配准参数的候选值，并建立输入指纹和模板指纹间细节点序列间的对应关系；D、基于所有对应的细节点对计算归一化的相似度分数，实现基于尺寸缩放估算的多采集仪间指纹交叉匹配。
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