[发明专利]一种标准单元库的设计方法和装置有效
| 申请号： | 200810101589.9 | 申请日： | 2008-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN101526967A | 公开（公告）日： | 2009-09-09 |
| 发明（设计）人： | 罗晋;马亮;张现聚;倪伟新 | 申请（专利权）人： | 北京芯慧同用微电子技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 许 静 |
| 地址： | 100083北京市海淀区知春*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种标准单元库的设计方法和装置，所述设计方法包括获取单元高度的步骤，所述获取单元高度的步骤包括：根据单位驱动反相器单元的尺寸和晶体管串联比例得到单元高度；所述单元高度为水平布线间距的整数倍，且大于或等于第一数值、第二数值和第三数值三者之和：所述第一数值为单位驱动反相器单元的N型晶体管的沟道宽度与最大串联级数的N型晶体管的串联比例的乘积；所述第二数值为单位驱动反相器单元的P型晶体管的沟道宽度与最大串联级数的P型晶体管的串联比例的乘积；所述第三数值为设计规则限制的长度和。通过使用本发明，可以大大降低单元尺寸与版图结构不匹配的情况，减小版图面积，提高版图设计的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 标准 单元 设计 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种标准单元库的设计方法，包括获取单元高度的步骤，其特征在于，所述获取单元高度的步骤包括：根据单位驱动反相器单元的尺寸和晶体管串联比例得到单元高度；所述单元高度为水平布线间距的整数倍，且大于或等于第一数值、第二数值和第三数值三者之和：所述第一数值为单位驱动反相器单元的N型晶体管的沟道宽度与最大串联级数的N型晶体管的串联比例的乘积；所述第二数值为单位驱动反相器单元的P型晶体管的沟道宽度与最大串联级数的P型晶体管的串联比例的乘积；所述第三数值为设计规则限制的长度和。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京芯慧同用微电子技术有限责任公司，未经北京芯慧同用微电子技术有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810101589.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电子喷射燃料供给系统的控制方法
- 下一篇：多烯紫杉醇倍半水结晶体及其制备方法
