[发明专利]发光体的测光装置有效
申请号: | 200810085377.6 | 申请日: | 2008-03-14 |
公开(公告)号: | CN101464186A | 公开(公告)日: | 2009-06-24 |
发明(设计)人: | 池田研一;保坂一;铃木俊克;井久保学 | 申请(专利权)人: | 株式会社光学系统 |
主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00;G01J1/42;G01J3/28;G01M11/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 吴丽丽 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的发光体的测光装置具备:输出与接收光的接收强度对应的检测数据(Ii)的n个受光部件;输出接收光的光谱分布数据(P(λ))的分光分析部件;与n个受光部件对应地,分别存储确定受光部件的灵敏度的分光灵敏度数据(PDi(λ))的存储部件;执行运算动作的控制部件。控制部件具有:根据n个检测数据(Ii)、n个分光灵敏度数据(PDi(λ))、光谱分布数据(P(λ)),计算出发光元件的发射功率的光谱分布(EGi(λ))的第一处理;根据光谱分布(EGi(λ)),计算出辐射通量(EGi)的第二处理;根据光谱分布(EGi(λ))、分光可见效率(V(λ)),计算出光通量(Φi)的第三处理。本发明的测光装置对于具有不均匀的配光特性的发光元件,也能够迅速并高精度地测定其光量。 | ||
搜索关键词: | 发光体 测光 装置 | ||
【主权项】:
1. 一种测光装置,自动地测量具有相对于发射方向而发射强度不均匀的配光特性的发光元件的光量,其特征在于包括:接收上述发光元件的发光,输出与接收到的接收光的接收强度对应的检测数据I1~In的多个的n个受光部件;接收上述发光元件的发光,对于接收到的接收光,输出以规定的波长间隔确定接收强度的相对值的光谱分布数据P(λ)的1个或多个分光分析部件;与n个受光部件对应地,分别存储以上述规定的波长间隔确定对上述受光部件中的接收光的波长的灵敏度的分光灵敏度数据PD1(λ)~PDn(λ)的存储部件;从上述受光部件、上述分光分析部件、上述存储部件接收必要的数据,执行运算动作的控制部件,其中上述控制部件具有:针对n个受光部件的每个,根据n个受光部件输出的检测数据I1~In、上述存储部件所存储的n个分光灵敏度数据PD1(λ)~PDn(λ)、上述分光分析部件输出的光谱分布数据P(λ),计算出上述发光元件的发射功率的光谱分布EG1(λ)~EGn(λ)的第一处理;根据通过第一处理计算出的光谱分布EG1(λ)~EGn(λ),计算出n个受光部件的辐射通量EG1~EGn的第二处理;根据通过第一处理计算出的光谱分布EG1(λ)~EGn(λ)、表示人对光的波长λ的可见度的分光可见效率V(λ),计算出n个受光部件的光通量Φi的第三处理。
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