[发明专利]发光体的测光装置

说明书

技术领域

本发明涉及针对构成LED(Light Emitting Diode)、LD(Laser Diode)等的发光元件芯片，与每个芯片都不同的配光特性无关地，能 够迅速并且高精度地确定其发光特性的测光装置。

背景技术

在LED等的制造厂商中，作为最终检查的一环，必须测量各发光 元件芯片的光量(quantity of light)。作为光量值，例如要求发光强 度(Luminous intensity)。在此，发光强度Iγ的坎德拉(candela) 值是相对于光通量(Luminous flux)Φγ的流明(lumen)值的每单位 立体角dΩ的比例，由Iγ＝dΦγ/dΩ给出。

另一方面，光通量Φγ是用由CIE(International Commission on Illumination)所规定的标准分光可见效率(Spectral Luminous efficiency)V(λ)对辐射通量Φe(radiant flux)进行加权积分的值， 还利用最大可见效果度(Maximun luminous efficacy)Km，如下式这 样被定义。另外，辐射通量Φe是指光源辐射到空间中的能量(W)， 即每单位时间的辐射能量(J/s)。

公式1

Φγ=Km∫0∞Φe(λ)·V(λ)dλ]]>

为了测量这样的光量，在接收发光元件芯片的发射光的位置，配 置光电二极管。光电二极管经由可见度滤波器接收接收光。根据来自 光电二极管的感应电流值，求出光通量(Luminous flux)值、发光强 度值。在此，可见度滤波器是与人的可见度对应地再现CIE标准分光 可见效率的特性V(λ)的滤波器。

由于光电二极管接收这样的通过了可见度滤波器的光，所以可以 根据该光电二极管的感应电流值，求出光通量Φγ的流明值、发光强 度Iγ的坎德拉值。即，可以用光量已知的其他主光源对光电二极管的 输出进行校正、或者使用其他标准测量器测量同一发光光源，根据该 测量值对光电二极管的输出进行修正。

但是，通过上述方法得到的检测值很大程度地依存于可见度滤波 器的特性。特别地可见度滤波器的特性大多还在青绿色波长区域有偏 差，因此有检测值的精度缺乏可靠性的缺点。另外，从光电二极管产 生的感应电流与接收光的波长对应地变化，但在上述方法中，还有完 全没有考虑到对该接收光的波长的灵敏度变化的缺点。

进而，对于具有相对于发射方向其发射强度不均匀的配光特性的 发光元件芯片，有无法正确地确定其光量的致命问题。这是因为：即 使是从同一半导体晶片切割出的芯片，其发光元件芯片的配光特性对 于每个芯片也不同，因此即使怎样精密地对测量对象的芯片进行定位， 也无法得到正确的测量值。

在此，可以增大光电二极管的受光面积，但在大面积的受光面上， 无法最优地接收来自点光源的发射光(入射光不与受光面正交)，因 此会增加该量的测量误差。

另外，在现有的装置中，还有以下的问题：即使能够检查朝向上 方的光，但对于朝向下方的发射光，完全无法检测出其强度。例如， 在现有的装置中，完全无法对应预定了倒装晶片封装(flip chip package)的发光元件。

发明内容

本发明就是鉴于上述问题而提出的，其目的在于：提供一种不需 要使用可见度滤波器，对于具有不均匀配光特性的发光元件，也能够 迅速并且高精度地测量其光量的测光装置。另外，其目的还在于：提 供一种还能够检测出全部方向的配光特性的测光装置。