[发明专利]一种复谱频域光学相干层析成像方法以及系统无效
申请号: | 200810066974.4 | 申请日: | 2008-05-09 |
公开(公告)号: | CN101297750A | 公开(公告)日: | 2008-11-05 |
发明(设计)人: | 邹波 | 申请(专利权)人: | 深圳职业技术学院 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00;G06F19/00 |
代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所 | 代理人: | 胡吉科 |
地址: | 518055*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种复谱频域光学相干层析成像方法及系统,其包括宽带光源、光源耦合器、组合式干涉仪、光纤成像探头、光谱仪、温度控制器及计算机;首先在参考光的三种不同相位状态下,测得三组干涉光谱,然后计算出两组干涉差分光谱,再取该两组干涉差分光谱的之和、之差,分别作为复振幅的实部和虚部,重构出波数空间中的复振幅干涉光谱,最后对该复振幅干涉光谱作逆傅立叶变换,得到被测样品沿光轴方向的深度扫描信息即层析图。本发明在不使用参考光相位调制装置的情况下,有效地消除了寄生像和复共轭镜像对层析图质量的影响,可实现反映被测样品真实结构的层析成像,还具有系统结构简单、动态范围宽及全量程的深度探测等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 复谱频域 光学 相干 层析 成像 方法 以及 系统 | ||
【主权项】:
1.一种复谱频域光学相干层析成像方法,其包括以下步骤:步骤1:在参考光的三种不同相位(![]()
和
)状态下,测得三组干涉光谱:S1(ω),S2(ω)和S3(ω);步骤2:分别计算S1(ω)与S2(ω)、S1(ω)与S3(ω)的差值,得到两组干涉差分光谱Sdif1(ω)和Sdif2(ω);步骤3:取该两组干涉差分光谱的和、差,分别作为复振幅实部、复振幅虚部,得到在频率ω空间中的复振幅干涉光谱,或称为干涉光复谱;步骤4:再将变量由频率ω变换到波数κ,得到在波数κ空间中的复振幅干涉光谱;步骤5:对波数κ空间中的复振幅干涉光谱,作逆傅立叶变换,得到被测样品沿光轴方向的深度扫描信息即层析图I(z),该层析图I(z)能反映被测样品的真实结构。
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