[发明专利]一种电磁无损检测探头的检测方法无效

专利信息
申请号: 200810057273.4 申请日: 2008-01-31
公开(公告)号: CN101231264A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 陈铁群;谢宝忠;刘桂雄;张清华;洪晓斌 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01N27/82 分类号: G01N27/82;G01R15/12;G01R33/00
代理公司: 北京捷诚信通专利事务所 代理人: 魏殿绅
地址: 510640广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种电磁无损检测探头的检测方法,通过从主机接收到的工作参数对检测方式进行设定,并依据该设定启动工作线圈和巨磁传感元件进行电磁无损检测,且经过对检测到的磁场信号进行数据处理后,对存储于Flash芯片上的探头特性参数进行修正。通过本发明实现了多种电磁无损检测一体化的功能,适合于对材料、设备的加工制造以及运行维护要求高安全性的行业使用。
搜索关键词: 一种 电磁 无损 检测 探头 方法
【主权项】:
1.一种电磁无损检测探头的检测方法,其特征在于,所述方法包括:接收命令,该命令为从主机接收到的工作参数;根据所述接收到的工作参数对检测方式进行设定,并将自身的各个特性参数发送到主机;根据所述检测方式的设定启动工作线圈和阵列巨磁传感元件并进行检测;输出检测到的磁场信号到主机,且该主机对接收到的磁场信号进行数据分析与处理;接收主机信号处理中与探头组成元件相关的参数,并对存储于Flash芯片的探头各相应元件的特性参数进行修正。
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