[发明专利]曝光装置及曝光方法无效
申请号: | 200810032826.0 | 申请日: | 2008-01-18 |
公开(公告)号: | CN101487978A | 公开(公告)日: | 2009-07-22 |
发明(设计)人: | 朴世镇 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李 丽 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种曝光装置,包括:激光源,发射单束激光束;分光系统,将激光源发出的单束激光束分成第一束激光束和第二束激光束;X方向成像系统,接收分光系统发射的第一束激光束并对X极掩模版电路图形进行成像;Y方向成像系统,接收分光系统发射的第二束激光束并对Y极掩模版电路图形进行成像;转像系统,接收X方向成像系统出射的第一束激光束并进行发射,及接收Y方向成像系统出射的第二束激光束并进行发射。本发明还提供一种曝光方法。本发明简化了光刻步骤,节省了成像时间。 | ||
搜索关键词: | 曝光 装置 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种曝光装置,包括:激光源,发射单束激光束;分光系统,将激光源发出的单束激光束分成第一束激光束和第二束激光束;X方向成像系统,接收分光系统发射的第一束激光束并对X极掩模版电路图形进行成像;Y方向成像系统,接收分光系统发射的第二束激光束并对Y极掩模版电路图形进行成像;转像系统,接收X方向成像系统出射的第一束激光束并进行发射,及接收Y方向成像系统出射的第二束激光束并进行发射。
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